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Das Buch behandelt die beiden wichtigsten Aufgabenstellungen im Rahmen des wirtschaftlich und wissenschaftlich ausserst bedeutenden Gebietes der Testvorbereitung: die automatische Testmustergenerierung und die Fehlersimulation. Alle im Buch beschriebenen Methoden und Verfahren zielen zum einen auf die Minimierung des dazu erforderlichen Rechenzeitaufwandes und zum anderen auf die Bewaltigung moglichst grosser Schaltungskomplexitaten. Besonderer Wert wurde auf eine prazise, formal konsistente und illustrative Beschreibung und auf eine moglichst vollstandige Aufbereitung der einschlagigen Literatur und somit des Standes der Technik gelegt. Das Buch enthalt eine Fulle neuer Methoden, die eine wesentliche Beschleunigung von Testmustergenerierungs- und Fehlersimulationsverfahren ermoglichen, und dokumentiert den mit diesen Methoden erzielten Fortschritt anhand einer Reihe von vergleichenden Untersuchungen. Ausserdem wird mit SOCRATES das derzeit leistungsfahigste der aus der Literatur bekannten Testmustergenerierungssysteme detailliert vorgestellt. Neben der Hilfestellung bei Implementierungsaufgaben gibt das Buch eine detaillierte Darstellung der Problematik des Testens integrierter Schaltungen und speziell der Prinzipien der automatischen Testmustergenerierung und der schnellen Fehlersimulation. Daruber hinaus kann es als Richtschnur fur Spezialvorlesungen nach dem Vordiplom (Elektrotechnik und Informatik) dienen sowie als Ansatz- und Ausgangspunkt fur Forschungsaktivitaten auf verwandten Forschungsgebieten.
