Probabilistische Verfahren fur den Test Hochintegrierter Schaltungen

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Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zufallig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschatzen, mit der ein Fehler durch ein zufallig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest benotigen viele Schaltungen unwirtschaftlich grosse Mustermengen. Um dieses Problem zu losen, wird eine Methode vorgeschlagen, fur Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen Fallen kann so die notige Musterzahl um mehrere Grossenordnungen gesenkt werden. Zur Ausfuhrung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen fur den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herkommlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergrossert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne dass signifikante Mehrkosten anfallen.